A análise de XRF sempre foi rápida. Mas se
você estiver fazendo medições de XRF em um
ambiente de produção, saberá que a maior
parte do tempo gasto com seu equipamento
de XRF é na preparação e na configuração, não
na análise. E com componentes cada vez mais
complexos e menores, especificações rigorosas e
a necessidade de inspeção total, cada segundo
é importante.
O novo FT230 da Hitachi vai direto ao cerne deste
problema. Cada elemento do FT230 foi projetado
para reduzir o tempo necessário na conclusão
de uma medição de XRF, de forma que você
possa agir em seus resultados mais rapidamente,
reduzindo o desperdício e aumentando o
rendimento. Em um nível fundamental, facilitamos e
simplificamos a interação com o instrumento.